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辐射制冷
本书是一部关于辐射制冷技术的全面、深入的专著,旨在为读者提供辐射制冷技术的原理、应用、发展及其挑战的全面视角。本书介绍了FDTD-LM和FDTD-PSO智能反演算法,解决了椭偏测量中粗糙表面散射引起的电磁干扰及偏振相位椭偏问题,同时开发的双光程-椭偏测量方法,解决了“背反”信号干扰这一世界性难题,并获得了PDMS等7种高分子材料光学常数,相关数据被美国NASA、加州理工、MIT等多所顶尖机构所应用,并被Nature、NatureCommunication、ScienceAdvance、JACS等顶尖杂志所引用。
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